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DEFECT-ORIENTED TESTING FOR NANO-METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
SPRINGER NATURE B.V.

DEFECT-ORIENTED TESTING FOR NANO-METRIC CMOS VLSI CIRCUITS

JOSE PINEDA DE GYVEZ / MANOJ SACHDEV
12-02-2010
9781441942852
INGLES
im.bajo demanda
PVP
244.29 € IBD

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